Por Dr. Inés Urdaneta /Fisico de Resonance Science Foundation
Al colocar un solo átomo de xenón en la punta de la sonda de un microscopio de fuerza Kelvin, un grupo de investigadores del CATRIN de la Universidad de Palacký en Olomouc, el Instituto de Física del CAS, el Instituto Química Orgánica y Bioquímica del CAS y el Centro de Supercomputación IT4-Inovations de la Universidad Técnica de Ostrava han logrado un extraordinario aumento de la resolución de la microscopía de barrido atómico, incrementando la sensibilidad de la misma hasta el nivel subatómico.
Gracias a este logro, este grupo -dirigido por Pavel Jelínek- ha podido captar la imagen real de la distribución anisotrópica (asimétrica) de la carga electrónica -llamada agujero sigma- en átomos individuales de compuestos halógenos. La distribución asimétrica de la...
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